ATX7006 - Système de test pour convertisseur de données

Fonctionnalités principales

  • Solution de test de convertisseur de données entièrement intégrée
  • Fréquences d’échantillonnage de DC à 200/400 MHz
  • Qualité et précision du signal inégalées
  • Tests statiques, dynamiques et histogrammes
  • Tests de linéarité et dynamiques avec la même configuration de test
  • Synchronisation de l’horloge du module DIO.
  • Convient pour tester les convertisseurs de 8 à 24+ bits
  • E/S numériques flexibles et polyvalentes
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L’ATX7006A est une solution entièrement intégrée pour tester les ADC, DAC et autres fonctions analogiques. Il combine une très grande précision, un faible bruit et un échantillonnage rapide avec une facilité d’utilisation exceptionnelle.

Traditionnellement, les convertisseurs de données sont testés à l’aide de toute une pile d’instruments de banc, de filtres, de matrices de commutation et de logiciels créés par l’utilisateur. De nombreuses heures d’ingénierie sont nécessaires pour obtenir des résultats fiables.

L’ATX7006A est un instrument unique pour tous vos tests et méthodes de test de convertisseurs de données. Cela signifie que vous pouvez vous concentrer sur le test de vos convertisseurs plutôt que sur le réglage fin de la configuration de test. L’ATX7006A est capable de tester des convertisseurs de 4 à 24 bits. Ses E/S numériques polyvalentes facilitent l’interfaçage avec le DUT, même pour les convertisseurs embarqués. L’architecture de référence unique améliore la stabilité et réduit l’effort d’étalonnage. L’horloge distribuée du fond de panier assure une mesure cohérente.

L’ATX7006A convient également parfaitement comme mise à niveau complémentaire pour les systèmes ATE.

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